Displaying 1 of 1 2021 Formato: Book Autor: Chapple, Mike, author. Título: CompTIA PenTest+ study guide : exam PT0-002 / Mike Chapple, David Seidl. Edición: Second edition. Editorial, Fecha: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, Inc., 2021. Descripción: xlv, 527 pages : illustrations, 24 cm. Temas: Computer security -- Examinations -- Study guides. Penetration testing (Computer security) -- Examinations -- Study guides. Hackers -- Examinations -- Study guides. Computer networks -- Examinations -- Study guides. Notas: Includes bibliographical references and index. Número de clasificación: QA76.9.A25 ISBN: 9781119823810 1119823811 Número de control: 793736 Disponibilidad en sistema: 1 N.º de artículos del sistema en: 0 N.º de artículos locales: 1 N.º de artículos locales en: 0 Reservas vigentes: 0 Hacer solicitud Please select and request a specific volume by clicking one of the icons in the 'Find It' section below. Agregar a Mi lista Expand All | Collapse All Disponibilidad Imagen de portada ampliada Pantalla de bibliotecario Displaying 1 of 1